TX-200 荧光测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，它也可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒；即可分析出各金属镀层的厚度，分析测量动态范围宽，可从0.01μM到30μM。

具有快速、准确、简便、实用等优点。

一、仪器特点：

1、同时分析元素周期表中由钠（Na）以上元素的镀层厚度；

2、可以分析单层、双层、三层等金属及合金镀层的厚度；

3、无需复杂的样品预处理过程；分析测量动态范围宽，可从0.01μM到30μM ；

4、采用先进的探测器技术及先进的信号处理线路，处理速度快，精度高，稳定可靠；

5、采用低功率X光管，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示；

6、采用彩色摄像头，准确定位测量位置；准确观察样品并可拍照保存样品图像；

7、采用固定式控制样品平台，准确方便；

8、精确度高，稳定性好，故障率低；

9、采用多层屏蔽保护，辐射安全性可靠；